X-射線衍射儀（XRD):用于晶體結構，粉末材料鑒別，物相定性定量分析，材料物相的定性定量分析，文博和考古、粉末灰物質成分分析、石油錄井、頁巖氣勘探、地質調查、全巖礦物成分分析、耐火材料、陶瓷材料等分析。

X射線衍射儀使用范圍：金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑，BTXIIIX射線衍射儀XRD在巖石樣品分析中的應用研究、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業廢棄物；有機材料：醫用品、工程塑料、各種樹脂等，BTXIIIX射線衍射儀XRD在巖石樣品分析中的應用研究。

三、XRD-Terra結構系統

冷卻系統采用Peltier電子制冷，BTXIIIX射線衍射儀XRD在巖石樣品分析中的應用研究，可有效保證探測器正常工作溫度（-45°C）

樣品振動系統替代傳統測角儀，該裝置使得樣品在樣品室中以6000HZ的頻率振動，保證樣品檢測的多角度，同時提高檢測樣品的統計量。

X-射線衍射儀（XRD）在材料分析方法教學中的應用。BTXIIIX射線衍射儀XRD在巖石樣品分析中的應用研究

X-射線衍射儀（XRD):用于晶體結構，粉末材料鑒別，物相定性定量分析，材料物相的定性定量分析，文博和考古、粉末灰物質成分分析、石油錄井、頁巖氣勘探、地質調查、全巖礦物成分分析、耐火材料、陶瓷材料等分析。

X射線衍射儀使用范圍：金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業廢棄物；有機材料：醫藥品、工程塑料、各種樹脂等。

輕松完成樣品的制備工作

傳統的XRD儀器要求將大批量的樣品研磨成粉末，再碾壓成小球狀，以確保晶粒具有足夠的隨機定向性。

相比之下，TERRA II分析儀可以使用小型振動樣品托架使樣品艙中的所有顆粒進行對流，從而可確保數據幾乎不受定向效應的影響。因此，儀器只需要15毫克的樣品就可以獲得的檢測結果，而且操作人員使用隨儀器附送的樣品工具包可以輕松地制備樣品。 粉末X射線衍射儀XRD在鋰離子電池中的應用研究X-射線衍射儀（XRD）在冶金行業的應用。

X-射線衍射儀（XRD):用于晶體結構，粉末材料鑒別，物相定性定量分析，材料物相的定性定量分析，文博和考古、粉末灰物質成分分析、石油錄井、頁巖氣勘探、地質調查、全巖礦物成分分析、耐火材料、陶瓷材料等分析。

X射線衍射儀使用范圍：金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業廢棄物；有機材料：醫藥品、工程塑料、各種樹脂等。

品牌: 奧林巴斯伊諾斯（Innov-x）

產品型號: XRD-Terra

產品尺寸: 485 x 392 x 192 mm

應用領域: 高校、考古所、研究所、地質、冶金,石油,化工,科研等

所屬用途: 晶體結構分析、材料物相分析

X-射線衍射儀（XRD):用于晶體結構，粉末材料鑒別，物相定性定量分析，材料物相的定性定量分析，文博和考古、粉末灰物質成分分析、石油錄井、頁巖氣勘探、地質調查、全巖礦物成分分析、耐火材料、陶瓷材料等分析。

X射線衍射儀使用范圍：金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業廢棄物；有機材料：醫藥品、工程塑料、各種樹脂等。

三、XRD-Terra結構系統

探測器采用二維CCD探測器，探測面積1024 x 256 pixels，該探測器可有效識別衍射光束和熒光光束，對能量和位置極度靈敏，可同步進行XRD及XRF分析。 X-射線衍射儀（XRD）巖蝕變礦物鑒定中的應用。

X-射線衍射儀（XRD):用于晶體結構，粉末材料鑒別，物相定性定量分析，材料物相的定性定量分析，文博和考古、粉末灰物質成分分析、石油錄井、頁巖氣勘探、地質調查、全巖礦物成分分析、耐火材料、陶瓷材料等分析。

X射線衍射儀使用范圍：金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業廢棄物；有機材料：醫藥品、工程塑料、各種樹脂等。

TERRA II分析儀提供一些性能強大的功能，是一款可以替代傳統XRD儀器、重量很輕、便于攜帶，且幾乎無需維護的分析儀。 X-射線衍射儀（XRD）簡介。TERRAX射線衍射儀XRD測試ITO薄膜厚度

X-射線衍射儀（XRD）在水泥中的應用研究。BTXIIIX射線衍射儀XRD在巖石樣品分析中的應用研究

X-射線衍射儀（XRD):用于晶體結構，粉末材料鑒別，物相定性定量分析，材料物相的定性定量分析，文博和考古、粉末灰物質成分分析、石油錄井、頁巖氣勘探、地質調查、全巖礦物成分分析、耐火材料、陶瓷材料等分析。

對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。 BTXIIIX射線衍射儀XRD在巖石樣品分析中的應用研究

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