XRD即X-RayDiffraction（X射線衍射）的縮寫。X射線衍射是一種通過儀器進(jìn)行檢測的光學(xué)分析法，將單色X射線照到粉晶樣品上，若其中一個晶粒的一組面網(wǎng)取向和入射X射線夾角為θ時，滿足衍射條件，則在衍射角2θ處產(chǎn)生衍射。樣品中有多個晶粒并滿足衍射，金華衍射儀代理服務(wù)。通過使用衍射儀的探測器以一定的角度繞樣品旋轉(zhuǎn)，接收到粉晶中不同網(wǎng)面，金華衍射儀代理服務(wù)、不同取向的全部衍射線，獲得相應(yīng)的衍射圖譜，金華衍射儀代理服務(wù)。通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段，所需樣品含量大于1%。XRD分析儀方便的樣本制備。金華衍射儀代理服務(wù)

X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。作為X射線衍射儀家族中一款顛覆性的產(chǎn)品，與傳統(tǒng)臺式XRD相比較，X射線衍射儀（XRD）具有以下優(yōu)勢:1、便攜式機(jī)體小，2.自動化使用樣品振動裝置，使用簡單，3.集成性使用透射幾何衍射技術(shù)及高靈敏度CCD探測器，4. 微量化檢測檢測樣品只需15mg,尤其適合刑偵、環(huán)境、管道腐蝕等難于收集樣品的檢測分析。5.無線傳輸采用WIFI無線連接，可遠(yuǎn)程操控及傳輸采集的數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集的現(xiàn)場性和數(shù)據(jù)處理的及時性。衍射儀法以其方便、快捷、準(zhǔn)確和可以自動進(jìn)行數(shù)據(jù)處理等特點(diǎn)在許多領(lǐng)域中取代了照相法，現(xiàn)在已成為晶體結(jié)構(gòu)分析等工作的主要方法。金華衍射儀代理服務(wù)奧林巴斯XRD衍射儀使用一種獨(dú)特的方式，快速、方便地采集和處理XRD數(shù)據(jù)。

許多XRD工具使用X射線探測器，*能捕獲樣品在一個平面中脫落的光子，即完成一維實(shí)驗。奧林巴斯裝配有電荷耦合裝置（CCD）探測器的XRD分析儀，可以采集衍射環(huán)的切片，以幫助用戶了解是否正確制備了樣品（粒子統(tǒng)計和/或晶粒的擇優(yōu)取向）。根據(jù)這些信息，用戶可以確認(rèn)所獲得定量性數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。幾何：與使用反射幾何技術(shù)的大型傳統(tǒng)XRD儀器不同，奧林巴斯的XRD分析儀在X射線束穿過樣品的位置處使用透射幾何技術(shù)。樣品池中的樣品量固定不變，因此樣品密度的變化不會影響分辨率。這個特點(diǎn)對于低密度材料尤其重要，如：藥物樣品，與基于反射幾何技術(shù)的儀器相比，我們的儀器在穿透性能固定的情況下可以獲得更高的分辨率。

較大的傳統(tǒng)臺式XRD儀器一般不能使用對能量較為敏感的探測器，因此探測器會受到XRD實(shí)驗中未使用的光子的影響。相比之下，奧林巴斯的XRD分析儀可以去除那些未直接參與到X射線衍射實(shí)驗中的光子，如：X射線熒光光子，從而可以提供更好的信噪比模式。鈷射線管和銅射線管選項：奧林巴斯XRD分析儀的標(biāo)準(zhǔn)配置裝配有一個堅固耐用的鈷（Co）靶材X射線管。這種陽極射線管廣受地質(zhì)學(xué)家和礦物學(xué)家的青睞，因為在分析鐵（Fe）含量較高的樣品時，這種射線管可以發(fā)揮出色的性能。不過，在某些應(yīng)用中（如：樣品中錳含量很高），需要使用銅（Cu）靶材X射線管。根據(jù)用戶具體應(yīng)用的需要，奧林巴斯可以提供這兩種陽極靶材X射線管的任何一種。SwiftMin自動礦物相辨別（ID）和定量軟件可以直接在XRD分析儀上實(shí)時提供數(shù)據(jù)。

單晶取向的測定就是找出晶體樣品中晶體學(xué)取向與樣品外坐標(biāo)系的位向關(guān)系。雖然可以用光學(xué)方法等物理方法確定單晶取向，但X衍射法不*可以精確地單晶定向，同時還能得到晶體內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的信息。一般用勞埃法單晶定向，其根據(jù)是底片上勞埃斑點(diǎn)轉(zhuǎn)換的極射赤面投影與樣品外坐標(biāo)軸的極射赤面投影之間的位置關(guān)系。透射勞埃法只適用于厚度小且吸收系數(shù)小的樣品;背射勞埃法就無需特別制備樣品，樣品厚度大小等也不受限制，因而多用此方法 。 多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的現(xiàn)象稱為織構(gòu)，常見的織構(gòu)有絲織構(gòu)和板織構(gòu)兩種類型。為反映織構(gòu)的概貌和確定織構(gòu)指數(shù)，有三種方法描述織構(gòu)：極圖、反極圖和三維取向函數(shù)，這三種方法適用于不同的情況。對于絲織構(gòu)，要知道其極圖形式，只要求出求其絲軸指數(shù)即可，照相法和衍射儀法是可用的方法。板織構(gòu)的極點(diǎn)分布比較復(fù)雜，需要兩個指數(shù)來表示，且多用衍射儀進(jìn)行測定 。X射線衍射儀應(yīng)用于樣品的物相定性分析和定量分析、晶粒大小、結(jié)晶度測定等。金華衍射儀代理服務(wù)

X射線衍射儀自動化使用樣品振動裝置，使用簡單。金華衍射儀代理服務(wù)

X射線衍射儀的應(yīng)用：物相分析，每一種晶體物質(zhì)和它的衍射花樣都是一一對應(yīng)的，不可能有兩種晶體給出完全相同的衍射花樣。隨著XRD標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫的日益完善，將樣品的XRD譜圖與標(biāo)準(zhǔn)譜圖進(jìn)行對比就可以確定樣品的物相組成。測定點(diǎn)陣常數(shù)，點(diǎn)陣常數(shù)是晶體物質(zhì)的基本結(jié)構(gòu)參數(shù)。通過X射線衍射線的位置(θ?)的測定可以獲得點(diǎn)陣常數(shù)，通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個點(diǎn)陣常數(shù)值。測定晶粒尺寸和點(diǎn)陣畸，變純譜線的形狀和寬度由試樣的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及晶體點(diǎn)陣中的主要缺陷決定，故對線形作適當(dāng)分析，原則上可以得到上述影響因素的性質(zhì)和尺度等方面的信息。金華衍射儀代理服務(wù)

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